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      CIF-TEM透射電鏡樣品桿清洗機

      CIF透射電鏡樣品桿清洗機(TEM)采用雙等離子清洗源設計,自動切換,一機多用,清洗快速高效。遠程等離子體清洗快速高效低轟擊損傷,同時可實現常規等離子清洗功能。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏用途。

      時間:2023-07-10型號:CIF-TEM訪問量:2142
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